硅片再生
围绕使用后硅片建立从分选、膜层去除、面型修复到清洗检测的完整再生路径,让晶圆重新获得可控、可验证的使用价值。
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SHANGHAI · WAFER BUSINESS DIVISION
以硅片再生为核心,将精密研磨、抛光、清洗、检测与工艺开发整合为一套可追溯的晶圆加工服务。
设备 · 工艺 · 洁净 · 质量
VALUE RECLAIMED
晶圆再生,是对材料状态、面型、洁净度和批次一致性的系统重塑。
致领半导体晶圆事业部把设备制造经验、现场加工能力和持续开展的工艺实验连接起来,从进厂评估开始,为每一种来料状态选择适配的工艺路线。
INTEGRATED SERVICES
围绕客户的材料状态、目标厚度、表面要求和后续用途,组合工序而非套用单一流程。
围绕使用后硅片建立从分选、膜层去除、面型修复到清洗检测的完整再生路径,让晶圆重新获得可控、可验证的使用价值。
根据材料、厚度、面型与边缘状态制定加工路线,兼顾材料去除、表面保护与批次一致性。
提供粗抛、中抛与精抛组合服务,并通过压力、转速、时间、耗材与浆料协同优化表面状态。
覆盖毛刷、去蜡及多槽RCA等清洗方式,针对颗粒、有机残留、化学残留和二次污染进行过程控制。
以厚度、平坦度、外观与表面颗粒等检查结果支持过程判定、异常隔离与出厂放行。
通过物理清洗、化学清洗、纯水冲洗与干燥的组合流程,降低片盒残留对洁净晶片的反向污染风险。
从样品评估、科学假设、DOE设计、量测分析到参数固化,将一次打样沉淀为可复用、可放大的加工工艺。
FROM INCOMING TO OUTGOING
流程不是固定的直线。来料状态决定分支,量测结果决定下一步,质量门槛决定是否放行。

核对规格、状态与客户要求,完成批次标识和异常隔离。
针对残留、膜层与表面影响层选择相匹配的前处理路线。
根据测量结果进行减薄、研磨或TTV修复。
逐片确认位置、贴合状态与承载稳定性。
协同控制设备、耗材、压力、速度、时间和温度。
完成去蜡、RCA清洗、冲洗与洁净干燥。
检查厚度、面型、外观和颗粒状态,记录批次结果。
复核产品与片盒,完成批次确认和出厂准备。
MATERIAL EXPERIENCE
基于已开展的样品加工与工艺实验,团队持续积累不同硬度、脆性、晶向和表面状态下的加工认知。除硅片再生外,可面向其他晶片开展可行性评估与工艺验证。
再生 · 减薄 · 研磨 · 抛光 · 清洗
双面研磨 · 粗抛 · 精抛 · 工艺验证
GaAs / InP晶片研磨与抛光验证
精密研磨 · 抛光 · 表面改善
金刚石、CZT及其他硬脆材料探索
R&D / 01FROM LAB TO PRODUCTION
工艺开发不是反复试错,而是以问题定义、变量控制和量测分析为核心的工程闭环。
MANUFACTURING FLOOR
无尘室、专用设备、批量产品和专注的操作,共同构成稳定加工的现场基础。




INSIDE THE OPERATION
以真实生产原帧呈现洁净环境、设备运行、批量流转与专业检测,让加工能力不只停留在文字描述中。








QUALITY BUILT INTO PROCESS
从批次识别、设备状态、过程参数,到厚度、面型、外观与颗粒检查,质量控制贯穿整个加工链。


START WITH YOUR WAFER
告诉我们材料、尺寸、来料状态与目标指标,晶圆事业部将从加工可行性和验证路径开始回应。